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题名:
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超大规模集成电路测试 / (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著 , 蒋安平, 冯建华, 王新安译 |
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ISBN:
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7-121-01490-4 价格： CNY58.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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16, 511页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2005 |
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主题词:
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超大规模集成电路 测试 |
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中图分类法:
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TN470.7 版次： 4 |
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其它题名:
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数字、存储器和混合信号系统 |
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主要责任者:
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布什内尔, 著 |
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主要责任者:
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阿格雷瓦尔, 著 |
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次要责任者:
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蒋安平 译 |
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次要责任者:
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冯建华 译 |
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次要责任者:
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王新安 译 |
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责任者附注:
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责任者Bushnell规范汉译姓: 布什内尔; 编目员自译Agrawal汉译姓: 阿格雷瓦尔。 |