题名:	电子元器件可靠性试验工程 / 罗雯, 魏建中, 阳辉等编著 ,
ISBN:	7-121-00965-X 价格： CNY58.00
语种:	chi
载体形态:	XIV, 350页图 26cm
出版发行:	出版地：北京出版社：电子工业出版社出版日期： 2005
主题词:	电子元件可靠性试验
中图分类法:	TN6 版次： 4
主要责任者:	罗雯编著
主要责任者:	魏建中编著
主要责任者:	阳辉编著