|
题名:
|
测度值分枝过程引论 / 赵学雷著 , |
|
ISBN:
|
7-03-007422-X 价格： CNY19.00 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
289页 20cm |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2000 |
|
内容提要:
|
本书阐述测度值分枝过程的基本理论，系统介绍超过程的几种构造、研究的思想方法以及超扩散过程在非线性偏微分方程中的应用。论述底过程、分枝率和分枝机制对超过程性质的联合作用。 |
|
主题词:
|
测度(数学) |
|
中图分类法:
|
O174.12 版次： 4 |
|
主要责任者:
|
赵学雷 著 |
|
附注:
|
广东省高教厅科学研究出版基金资助 中国科学院科学出版基金资助出版 国家自然科学基金委员会资助出版 |
|
索书号:
|
8 |