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题名:
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系统芯片(SoC)验证方法与技术 / (美)Prakash Rashinkar, (美)Peter Paterson,(美)Leena Singh著 , 孙海平，丁健译 |
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ISBN:
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7-121-00589-1 价格： CNY29.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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12,263页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2005 |
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内容提要:
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本书从最高层次的系统级验证直至最终的物理实现和签付，详细介绍了各种设计抽象级别和各阶段所涉及到的各种验证方法及工具。 |
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主题词:
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集成电路 芯片 |
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主题词:
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集成电路 |
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主题词:
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芯片 |
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中图分类法:
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TN407 版次： 4 |
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主要责任者:
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拉申卡尔 著 |
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主要责任者:
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佩特森 著 |
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主要责任者:
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辛格 著 |
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次要责任者:
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孙海平 译 |
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次要责任者:
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丁健 译 |