题名:
微电子器件可靠性
/ 史保华,贾新章,张德胜编著 ,
ISBN:
7-5606-0719-5 价格: CNY13.00
语种:
chi
载体形态:
182页 图 26cm
出版发行:
出版地: 西安 出版社:
西安电子科技大学出版社
出版日期: 1999
主题词:
微电子技术
电子器件
中图分类法:
TN406 版次: 4
主要责任者:
史保华
编著
主要责任者:
贾新章
编著
主要责任者:
张德胜
编著
附注:
西安电子科技大学研究生教材建设基金资助