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题名:
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全反射X射线荧光分析 / (德)赖因零尔德·克洛肯凯帕[Reinhold Klockenkamper] 著 , 王晓红，王毅民，王永奉译 |
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ISBN:
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7-5022-2678-8 价格： CNY28.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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237页 图 21cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 原子能出版社 出版日期： 2002.12 |
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内容提要:
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本书全面总结了全反射X射线荧光自1971年出现，1980年第一台商品仪器问世以来，在理论、仪器和应用方面的进展，系统而详细地阐述了TXRF的原理、仪器装置和多方面的独特性能，特别着重其在各学科领域的应用并与其他原子光谱学方法作了多方面的对比。 |
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主题词:
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X射线荧光光谱法 荧光分析 |
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主题词:
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X射线荧光光谱法 |
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主题词:
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荧光分析 |
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中图分类法:
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O657.34 版次： 4 |
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主要责任者:
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克洛肯凯帕 著 |
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主要责任者:
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Klockenkamper 著 |
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次要责任者:
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王晓奉 译 |
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次要责任者:
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王毅民 译 |
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次要责任者:
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王永奉 译 |