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题名:
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电子系统小子样试验理论方法 / 王国玉 ... [等] 著 , |
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ISBN:
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7-118-03092-9 价格： CNY12.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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214页 图 20cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2003 |
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内容提要:
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本书对Bayes小子样方法的理论及在电子系统试验中的应用做了详细介绍和阐述。由于Bayes方法的先进性，对于试验结果解释的合理性及其使用时的易操作性，使得该方法在得到同样的置信度条件下，所需的样本数目大为减少，从而有效地缩短试验周期，大大降低试验消耗，提高试验效率，有着广泛的应用前景。 |
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主题词:
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电子系统 试验模型 |
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中图分类法:
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TN103-81 版次： 4 |
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主要责任者:
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王国玉 著 |