|
中图分类法:
|
TN30 版次： |
|
著者:
|
Rosenauer, Andreas, |
|
题名:
|
Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : [ an analysis of composition and strain state /] / , |
|
出版发行:
|
出版地： Berlin ; 出版社： Springer, 出版日期： c2003. |
|
载体形态:
|
xii, 238 p. : ill. (some col.) ; 24 cm. |
|
主题词:
|
Semiconductors Analysis. |
|
主题词:
|
Semiconductors Microscopy. |
|
主题词:
|
Transmission electron microscopy. |