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中图分类法:
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TN431.2 版次： |
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著者:
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Crouch, Alfred L. |
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题名:
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Design-for-test for digital IC`s and embedded core systems = [ 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 /] / , |
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其它题名:
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数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 |
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出版发行:
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出版地： 北京 : 出版社： 中国电力出版社, 出版日期： 2004. |
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载体形态:
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xxviii, 348 p. : ill. ; 24 cm. |
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主题词:
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Digital integrated circuits Design and construction. |
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主题词:
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Electronic circuit design. |
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主题词:
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Automatic checkout equipment. |
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主题词:
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Embedded computer systems Design and construction. |