题名:
可靠性增长试验   / 梅文华编著 ,
ISBN:
7-118-03111-9 价格： CNY25.00
语种:
chi
载体形态:
21,250页 表格 21cm
出版发行:
出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2003
内容提要:
本书介绍了可靠性增长试验的有关知识，力求理论推导与工程应用相结合。全书共分7章，包括：可靠性增长概述；可靠性增长试验；Duane模型；多台产品AMSAA模型；电子产品可靠性增长工程等内容。 
主题词:
可靠性试验   研究
主题词:
可靠性试验  
中图分类法:
TB114.3 版次： 4
主要责任者:
梅文华 编著
附注:
由国防科技图书出版基金资助出版 
责任者附注:
梅文华(1965-)，湖南涟源人。空军第一研究所高级工程师，空军级专家，空军工程大学硕士生导师，全国电工电子学会可靠性与维修性标准化技术委员会委员。著有《跳频通信地址编码理论》。