题名:
|
科学技术测度体系 / (美)埃利泽·盖斯勒[Eliezer Geisler] , 周萍等译 |
ISBN:
|
7-5023-4487-X 价格: CNY20.00 |
语种:
|
chi |
载体形态:
|
xvi,380页 图表 21cm |
出版发行:
|
出版地: 北京 出版社: 科学技术文献出版社 出版日期: 2004.3 |
内容提要:
|
本书介绍了评估和测度科技及其成果的体系,概述了科技测度问题以及用于评估通常归之于科技旗号下的诸多活动的方法。通过将构成了技术成果和进步的背景与测度它们的现有努力相结合,全面展示了过去和现在通过测度技术成就的定性。 |
主题词:
|
科学技术 测度论 |
主题词:
|
科学技术 |
主题词:
|
测度论 |
中图分类法:
|
G301 版次: 4 |
主要责任者:
|
盖斯勒 著 |
主要责任者:
|
Geisler 著 |
次要责任者:
|
周萍 译 |
附注:
|
国家自然科学基金资助出版(项目编号:70073007) |
责任者附注:
|
埃利泽·盖斯勒[Eliezer Geisler] ,是伊利诺理工学院斯图亚特商学院组织行为学教授,著有《科学技术测度体系》等。 |