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题名:
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抗辐射电子学
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赖祖武主编
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ISBN:
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7-118-01866-X
价格：
CNY18.00
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语种:
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chi
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载体形态:
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363页
图表
20cm
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出版发行:
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出版地：
北京
出版社：
国防工业出版社
出版日期：
1998
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内容提要:
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本书主要内容有：对强辐射环境特性参数分析；电子材料辐射效应与损伤机理的物理学基础；各种有源半导体元器件与集成电路的辐射效应与加固技术和电子系统的总体加固设计与评价等。
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主题词:
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场效应晶体管
辐射效应
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中图分类法:
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TN386
版次：
3
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其它题名:
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辐射效应及加固原理
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主要责任者:
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赖祖武
主编
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