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题名:
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电子元器件失效分析及应用 / 夏泓主编 , |
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ISBN:
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7-118-01811-2 价格： CNY8.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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155页,[3] 页图版 摹真，图表，照片 20cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 1998 |
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内容提要:
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本书介绍了失效的概念、分类，提出得到失效模式定量判据的一些方法，在论述失效分析的思路和典型程序之后，介绍了元器件失效分析的常用技术等。 |
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主题词:
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电子元件-失效分析 |
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主题词:
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失效分析-电子元件 |
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主题词:
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电子器件-失效分析 |
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主题词:
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失效分析-电子器件 |
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中图分类法:
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TN601 版次： 3 |
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主要责任者:
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夏泓 主编 |