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题名:
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National Fall Conference (1979 : St. Louis) / American Society for Nondestructive testing , |
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ISBN:
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价格： ￥4.90 |
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语种:
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eng |
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载体形态:
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314 p. |
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出版发行:
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出版地： Columbus, OH 出版社： ASNT 出版日期： 1979 |
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其它题名:
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Paper summaries |
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附注:
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Gateway to NDT technology |
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主要团体责任者:
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American Society for Nondestructive testing |
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主要团体责任者:
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National Fall Conference |
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索书号:
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2 |