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题名:
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可靠性与可测性分析设计 / 丁瑾编著 , |
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ISBN:
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7-5635-0245-9 价格： ￥17.80 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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211页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 北京邮电大学出版社 出版日期： 1996 |
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内容提要:
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本书对系统与数字电路的可靠性的可测性作了完整的叙述和讨论。 |
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主题词:
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数字电路-可靠性设计 |
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主题词:
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可靠性设计-数字电路 |
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主题词:
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电子电路 可测函数 |
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中图分类法:
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TN702 版次： 三版 |
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主要责任者:
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丁瑾 编著 |
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附注:
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博士后基金资助项目 |
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索书号:
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5 |