题名:
高频、微波半导体器件的计量测试
/ 曹余录等编著 ,
ISBN:
7-5026-0562-2 价格： $4.20
语种:
chi
载体形态:
162页 19cm
出版发行:
出版地： 北京 出版社：
中国计量出版社
出版日期： 1992.12
内容提要:
主题词:
半导体器件
计量
主题词:
半导体器件
测试
中图分类法:
TN307 版次： 三版
主要责任者:
曹余录
编著
补充题名:
半导体 计量
科图分类法:
版次：