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题名:
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半导体器件可靠性技术 / (日)安食恒雄主编 , 日本松下电子工业株式会社编 |
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ISBN:
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7-5606-0166-9 价格： $7.15 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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352页 图 20cm |
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出版发行:
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出版地： 西安 出版社： 西安电子科技大学出版社 出版日期： 1991.12 |
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内容提要:
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本书论述了影响半导体分立器件和集成电路可靠性问题的各种因素及其解决办法，并对正在研究的课题也作了介绍。 |
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主题词:
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电子产品可靠性－半导体器件 |
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主题词:
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半导体器件－电子产品可靠性 |
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中图分类法:
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TN306 版次： |
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主要责任者:
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安食恒雄 主编 |
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次要责任者:
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周南生 译 |
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责任者附注:
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安食恒雄，日本松下电子工业株式会社半导体事业本部质量技术部部长 |
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补充题名:
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半导体 器件 可靠性 技术 |
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科图分类法:
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73.7314 版次： |
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主要团体责任者:
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日本松下电子工业株式会社 编 |